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半導體器件高低溫循環測試系統

半導體器件高低溫循環測試系統

簡要描述:半導體器件高低溫循環測試系統
航空、汽車、家電、科研等領域*的測試設備,用于測試和確定電工、電子及其他產品及材料進行高溫、低溫、交變濕熱度或恒定試驗的溫度環境變化后的參數及性能。半導體器件高低溫循環測試系統,是半導體產業的關鍵質量保障利器。該系統專為嚴苛的半導體測試需求打造,能精準模擬極-端溫度環境,溫度范圍可達 -60℃至 150℃,控溫精度高達 ±0.5℃,有力確保測試的準確性。

產品型號: SMD-150AF

所屬分類:高低溫環境試驗裝置

更新時間:2025-02-17

廠商性質:生產廠家

詳情介紹

半導體器件高低溫循環測試系統



半導體器件高低溫循環測試系統,是半導體產業的關鍵質量保障利器。該系統專為嚴苛的半導體測試需求打造,能精準模擬極-端溫度環境,溫度范圍可達 -60℃至 150℃,控溫精度高達 ±0.5℃,有力確保測試的準確性。通過先進的循環風道設計,使箱內溫度均勻性出色,消除局部溫差影響。無論是芯片、晶體管,還是集成電路,在其高頻次的高低溫交替沖擊下,潛在缺陷與性能短板將無所遁形。搭配智能觸控操作屏,參數設置便捷,實時數據一目了然,為半導體器件從研發到量產全程護航

半導體器件高低溫循環測試系統



皓天設備恒溫恒濕試驗箱的型號及規格:

1. 容積(單位:L)

2. 工作室尺寸(D*W*H)mm

3. 外型尺寸(D*W*H)mm

4. 80L

400×400×500

5. 930×660×1485

6. 150L

7. 500×500×600

8. 950×1000×1660

9. 225L

10. 600×500×750

11. 1030×1000×1815

12. 800L

13. 800×1000×1000

14. 1230×1500×2080

15. 1000L

16. 1000×1000×1000

17. 1430×1500×2080






半導體器件高低溫循環測試系統

參數:

型號:SMD-150AF

1、溫度范圍:-60℃~150℃

2、濕度范圍:20~98%RH(溫度在25℃~80℃時)

3、溫度均勻度:≤2℃ (空載時)

4、濕度均勻度:+2、-3%RH

5、溫度波動度:±0.5℃ (空載時)

6、濕度波動度:±2%

7、溫度偏差:±2℃

8、濕度偏差:±2%

半導體器件高低溫循環測試系統

曲線記錄功能:

3在機器停機狀態下,可隨時插入U盤導出或上傳數據,并可通過隨機贈送軟件將導出來的文件在電腦查看或轉成EXCEL格式。

儀表配備USB端口,可直接通過端口驅動微型打印機預覽及打印(選配)。

控制系統:

控制器 進口微電腦濕溫度集成控制器(濕度直接顯示百分數)。

精度范圍 設定精度:溫度±0.1℃、濕度±0.1%R·H,指示精度:溫度± 0.1℃、溫度±0.1%R·H 溫濕度傳感器 鉑鉑金電阻·PT100Ω。

加熱系統 *獨立系統,鎳鉻合金電加熱式加熱器。

加濕系統 外置隔離式,全不銹鋼鍋爐式淺表面蒸發式加濕器。

循環系統 耐溫低噪音空調型電機,多葉式離心風輪。

半導體器件高低溫循環測試系統





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